제목 | [SEE] 2015년도 제1회 연구장비전문가 자격검정 시험위원 모집 공고 | ||||
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등록일 | 2015-11-03 | 조회 | 5750 | ||
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국가과학기술 연구개발에 주로 사용되는 20대 핵심연구장비의 운영·분석에 관한 기초지식과 실무능력을 검정하는 연구장비전문가 자격을 위한 시험위원을 다음과 같이 모집 공고하오니 많은 참여 부탁드립니다.
■ 시험일정
○ 1차 필기시험 : 2015.12.19.(토)
○ 2차 구술시험 : 2016.3.12.(토)~2016.3.26.(토)
■ 검정분야
○ 현미경분석, 분리분석, 분광분석, 엑스선분석, 물성분석 등 총 5개 분야로 구분하여 자격검정
■ 검정기준 및 검정방법
검정 분야 | 검정 과목 | 검정 방법 |
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현미경 분석(4과목) | 주사 전자현미경(SEM) |
□ 1차 필기시험 -형태 : 객관식(4지선다형)-문항수 : 80문항 -시험시간 : 120분 □ 2차 구술시험 -형태 :심층면접-시험시간 : 1개 분야당 60분
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투과 전자현미경(TEM) | ||
주사 탐침현미경(SPM) | ||
공초점 레이저현미경(CLSM) | ||
분리 분석(5과목) | 액체 크로마토그래프(LC) | |
기체 크로마토그래프(GC) | ||
이온 크로마토그래프(IC) | ||
액체 크로마토그래프 질량 분석기(LC/MS) | ||
기체 크로마토그래프 질량 분석기(GC/MS) | ||
분광 분석(5과목) | 자외선·가시광선 분광 광도계(UV/Vis) | |
푸리에변환 적외선 분광기(FT-IR) | ||
핵자기 공명 분광기(NMR) | ||
원자흡수광도계(AAS) | ||
유도결합 플라즈마 질량 분석기(ICP/MS) | ||
엑스선 분석(3과목) | 엑스선 형광 분석기(XRF) | |
엑스선 광전자 분광기(XPS) | ||
엑스선 회절 분석기(XRD) | ||
물성 분석(3과목) | 열 분석기(TA) | |
입도 분석기(PSA) | ||
원소 분석기(EA) |
■ 모집대상
○ 출제위원, 검토위원, 평가위원(00명)
■ 연구장비전문가 자격시험 전문가 자격 및 선정기준
1호) 해당 직무분야의 박사학위를 취득하고 2년 이상의 경력이 있는 자
2호) 대학에서 해당 직무분야의 조교수 이상으로 2년 이상 재직한 자
3호) 전문대학에서 해당 직무분야의 부교수 이상으로 재직한 자
4호) 해당 직무분야의 석사학위가 있는 사람으로서 해당 기술과 관련된 분야에서 5년 이상 종사한 자
5호) 제 1호부터 제 5호까지의 규정에 해당하는 자와 같은 수준 이상의 자격이 있다고 인정되는 자
※ 근거 : 연구장비전문가 자격 관리·운영 규정 제9조 제1항
■ 문의사항
한국기초과학지원연구원 국가연구시설장비진흥센터 대전 유성구 과학로 169-148(어은동 52-9)
장비심의팀 042-865-3952