-
바로가기 메뉴
-
주요메뉴 바로가기
-
본문 바로가기
-
하단메뉴 바로가기
핵심연구장비
20대 핵심연구장비
-
- 01
주사 전자현미경
- 현미경분석
- Scanning Electron Microscope(SEM)
- 고유의 특성 X-선 에너지를 이용하여 물질 표면의 미세구조 및 형상 관찰, 구조 및 정량을 분석하는 장비
-
- 02
투과 전자현미경
- 현미경분석
- Transmission Electron Microscope(TEM)
- 시료에 단파장의 전자빔을 조사하여 내부구조의 고배율 이미지 관찰, 국부적인 영역에 대한 화학조성을 분석하는 장비
-
- 03
주사 탐침현미경
- 현미경분석
- Scanning Probe Microscope(SPM)
- 미세한 탐침을 시료에 근접시켜 시료와 탐침 사이의 상호작용을 이용하여 표면 형상을 비롯하여 시료의 기계적, 전기적, 광학적 성질 등 다양한 물리적 특성을 파악하는 장비
-
- 04
공초점 레이저현미경
- 현미경분석
- Confocal Laser Scanning Microscope(CLSM)
- 공초점 원리를 이용한 레어저 현미경으로 고해상도 2차원 및 3차원 입체 영상, 살아있는 세포 영상 관찰, 이온 및 활성산소 이동을 분석하는 장비
-
- 05
액체 크로마토그래프
- 분리분석
- Liquid Chromatograph(LC)
- 혼합물의 성분물질을 액체의 이동상과 고정상을 이용하여 시간대별 반응의 크기를 측정하여 특정 화학 물질의 정량을 분석하는 장비
-
- 06
기체 크로마토그래프
- 분리분석
- Gas Chromatograph(GC)
- 시료를 기화시켜 비활성기체를 이동상으로 하여 분자량 500이하의 휘발성 유 · 무기시료의 정량 · 정성 및 미량성분을 분석하는 장비
-
- 07
이온 크로마토그래프
- 분리분석
- Ion Chromatograph(IC)
- 이온성 액체시료를 이온 교환컬럼에 통과시켜 이온성분을 분리한 후 전기전도도 검출기를 사용하여 각 이온성분의 정량 · 정성을 분석하는 장비
-
- 08
액체 크로마토그래프 질량 분석기
- 질량분석
- Liquid Chromatograph/Mass Spectrometer(LC/MS)
- 고속 액체 크로마토그래피의 칼럼 출구를 질량 분석계의 시료 도입부에 결합한 장비
-
- 09
기체 크로마토그래프 질량 분석기
- 질량분석
- Gas Chromatograph/Mass Spectrometer(GC/MS)
- 가스 크로마토그래피와 질량분석계를 직결한 장치
-
- 10
유도결합 플라즈마 질량 분석기
- 질량분석
- Inductively Coupled Plasma/Mass Spectrometer(ICP/MS)
- 질량분석기의 일종으로 1012이하의 작은 함량을 지니는 금속과 몇가지 비금속 원소의 농도를 측정하는 장비
-
- 11
자외선 · 가시광선 분광 광도계
- 분광분석
- Ultraviolet/Visible Spectrophotometer(UV/Vis)
- 특정 파장(자외선 및 가시광선 영역)의 빛을 분광하여 시료에 통과시켜 빛의 투과율과 흡수율(흡광도)을 측정하는 장비
-
- 12
푸리에변환 적외선 분광기
- 분광분석
- Fourier Transform-Infrared Spec troscope(FT-IR)
- 적외선 영역의 복사선을 이용하여 물질의 흡수 스펙트럼을 조사해서 유기물질의 정량 · 정성을 분석하는 장비
-
- 13
핵자기 공명 분광기
- 분광분석
- Nuclear Magnetic Resonance Spectroscope(NMR)
- 강한 자기장을 이용하여 분석시료에서 탄소, 수소 등의 원자핵이 특정 주파수의 전자기파와 공명하는 현상을 이용하여 물질의 구조를 분석하는 장비
-
- 14
원자 흡수 광도계
- 분광분석
- Atomic Absorption Spectrometer(AAS)
- 기체상태의 원자나 이온화된 원자상태에서 전자 전이에 의해 흡수되는 복사선의 세기를 측정하여 금속 및 준금속 물질 등(약 70여 원소) ppm 수준의 정량을 분석하는 장비
-
- 15
엑스선 형광 분석기
- 엑스선분석
- X-ray Fluorescence Spectroscope(XRF)
- 시료에 X-선을 조사하여 시료에서 발생하는 2차 X-선(형광)을 이용하여 유기물과 무기물에 대한 원소의 정량 · 정성을 분석하는 장비
-
- 16
엑스선 광전자 분광기
- 엑스선분석
- X-ray Photoelectron Spectroscope(XPS)
- 분석시료에 X-선을 조사하여 방출되는 광전자의 에너지를 측정하여 시료표면의 조성 및 화학적인 결합상태를 분석하는 장비
-
- 17
엑스선 회절 분석기
- 엑스선분석
- X-ray Diffractometer(XRD)
- 시료에 X-선을 조사시켜 나타나는 회절패턴을 분석하여 물질의 정성분석 및 결정구조 등을 분석하는 장비
-
- 18
열 분석기
- 물성분석
- Thermal Analyzer(TA)
- 온도변화에 따라 변화하는 물질의 물리적 성질을 온도함수로 측정하여 시료의 열적 특성 변화를 측정하는 장비
-
- 19
입도 분석기
- 물성분석
- Particle Size Analyzer(PSA)
- 일정파장의 레이저를 측정하고자 하는 입자 표면에 조사하여 나타나는 광산란 현상을 이용하여 입자 크기를 분석하는 장비
-
- 20
원소 분석기
- 물성분석
- Elemental Analyzer(EA)
- 유기화합물의 주성분인 탄소, 수소, 산소, 질소, 황 등을 분석하여 미지물질의 분자식에 관한 정보를 제공하고, 기지물질의 순도를 분석하는 장비